W ramach współpracy z przemysłem Instytut współpracuje m.in. z
- producentami maszyn elektrycznych EMIT i BESEL, należącymi do Spółki Cantoni Motor,
- przedsiębiorstwami koncernu ABB Sp. z o.o,
- z firmą SEW-EURODRIVE,
- firmą ZREW.
W ramach współpracy z zagranicą prowadzone są badania m.in. z
- ośrodkiem badawczym koncernu OTIS United Technologies (USA),
- firmą TurboCare Poland S.A. koncernu Westinghouse Electric Corporation,
- zakładami BSH Sp. z o.o. Sprzęt Gospodarstwa Domowego.
Dzięki współpracy z zakładami przemysłowymi laboratoria Instytutu są wyposażone w najnowocześniejsze napędy i rozwiązania sterowników firm SIEMENS oraz SEW. Efektem współpracy z IBM Polska jest zbudowane wyspecjalizowane laboratorium komputerowe, wyposażone w sprzęt tej firmy, służące do prowadzenia warsztatów i seminariów. Dzięki wsparciu firmy IBM Instytut otrzymał międzynarodowy certyfikat w systemie Prometic.
Na terenie Instytutu znajdują się także: wysokospecjalizowane laboratoria elektrotechnologii ochrony środowiska, laboratoria plazmowej syntezy nanomateriałów i tzw. Stanowisko strefy czystej będące podstawą Laboratorium Mikroskopowego.
Znajdujący się w Instytucie skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM–IT200 In-Touch-Scope to nowoczesny mikroskop z kolumną wyposażoną w działo elektronowe z katodą wolframową, oferujący pełen wachlarz funkcji. Posiada szereg rozwiązań umożliwiających pracę z dowolnym rodzajem badanego materiału. Układ optyki elektronowej mikroskopu In-Touch-Scope™ wyposażony jest w działo elektronowe z precentrowaną katodą wolframową oraz zespołem cylindra Wehnelta o kształcie stożkowym. Rozwiązanie to zapewnia maksymalne wykorzystanie możliwości katody wolframowej, gwarantując wyjątkowo jasną i koherentną wiązkę elektronową bez konieczności stosowania wysokich prądów emisji. Instrument In-Touch-Scope™ posiada możliwość prowadzenia obserwacji i badań w szerokim i zmiennym w sposób ciągły zakresie wartości napięcia przyśpieszającego: od 500 V do 20 kV.
Urządzenie jest wyposażone w detektor elektronów wtórnych (SE) umożliwiający odwzorowanie topografii preparatu, co umożliwia badanie preparatów w stanie natywnym, ich przełomów itp. Przy pomocy detektora SE istnieje także możliwość zbierania obrazów BSE (elektrony wstecznie rozproszone) po odwrotnym spolaryzowaniu siatki detektora SE.
Połączenie mikroskopu JSM–IT200 z mikroanalizatorem rentgenowskim JED-2300/2300F umożliwia nie tylko dokładną analizę struktury badanych próbek ale również składu chemicznego, co umożliwia analizę na poziomie molekularnym. Omawiane połączenie gwarantuje jednoczesną ocenę struktury i składu, co daje możliwość dokładnego określenia nie tylko możliwości zastosowania ale możliwości modyfikacji badanej próbki pod kątem wyznaczonego celu projektowego. Istnieje także możliwość badania próbek materiałów nie przewodzących prądu elektrycznego po pokryciu powierzchni materiałem przewodzącym, co umożliwia wchodząca w skład zestawu napylarka sputteringowa